03-6304-1306

ニュース・セミナー情報

お知らせ2023/09/20

電子基板の信頼性評価におけるシミュレーション技術に関する技術発表(エレクトロニクス実装学会 バウンダリスキャン研究会 2023年度公開研究会)

2023年9月25日(月)にオンラインにて開催されるエレクトロニクス実装学会 バウンダリスキャン研究会 2023年度公開研究会におきまして、電子基板の信頼性評価におけるシミュレーション技術に関する研究開発成果を発表します。

エレクトロニクス実装学会 バウンダリスキャン研究会 2023年度公開研究会(オンライン研究会)
開催日時:2023年9月25日(月)13:30~16:50
発表時間:15:55~16:25
タイトル:バウンダリスキャンテストとCAEの連携によるHALT試験におけるBGA信頼性評価
発表者:前澤 祐

詳細はこちら https://jiep.or.jp/tech-committees/pdf/20230925.pdf

電子部品・電子基板解析サービス